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用于檢查硅片的表面光潔度-日本horiba高光澤度檢查儀IG-410
高光澤度光澤度檢查儀IG-410是一種方便使用的類(lèi)型,可方便地進(jìn)行現場(chǎng)工作,并且只需將與顯示單元分開(kāi)的測量單元應用于被攝體即可進(jìn)行測量。使用近紅外線(xiàn)作為光源,并測量了1000的光澤度(鏡面反射率100%)。
無(wú)需預熱。對于需要高表面光澤度的產(chǎn)品(例如用于汽車(chē)前燈的照明反光器,用于復印機的反光器和硅片)的質(zhì)量控制而言,它是理想的選擇。
*由于光澤度是通過(guò)光的反射來(lái)測量的,因此測量點(diǎn)必須平坦。
光學(xué)系統 | 入射角60°-接收角60° |
測量面積 | 3 x 6毫米橢圓 |
光源 | LED(波長(cháng)890nm) |
受光部 | SPD(硅光電二極管) |
測量范圍 | 100范圍: |
重復性 | 滿(mǎn)量程的±1% |
電源供應 | AA干電池x 4 |
電池壽命 | 200小時(shí)以上(使用堿性干電池) |
工作溫度極限 | 10-40℃ |
尺寸 | 機身:75W x 34D x 140H mm |
大眾 | 約350g(帶內置電池) |
其他功能 | 自動(dòng)校準,自動(dòng)關(guān)機 |
配件 | 用于100和1000量程的校準標準板 |