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F20膜厚測量系統工作原理分析
這是一種行業(yè)標準、低成本、多功能桌面涂層厚度測量系統，已安裝在全球 5,000 多個(gè)裝置中。它可用于廣泛的應用，從研究和開(kāi)發(fā)到制造現場(chǎng)的在線(xiàn)測量。
F20基于光學(xué)干涉法，可以在約1秒內輕松測量透明或半透明薄膜的厚度、折射率和消光系數。
它還支持多點(diǎn)在線(xiàn)測量，并支持RS-232C和TCP/IP等外部通信，因此也可以從PLC或主機進(jìn)行控制。
當入射光穿透不同物質(zhì)的界面時(shí)將會(huì )有部份的光被反射，由于光的波動(dòng)性導致從多個(gè)界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長(cháng)光譜產(chǎn)生振蕩的現象。從光譜的震蕩頻率，愈多的震蕩代表較大的厚度。而其他的材料特性如折射率與粗糙度也也能同時(shí)測量。
兼容多種薄膜厚度（1nm 至 250μm）
兼容寬波長(cháng)范圍（190nm至1700nm）
強大的膜厚分析
光學(xué)常數分析（折射率/消光系數）
緊湊型外殼
支持在線(xiàn)測量
| 平板 | 單元間隙、聚酰亞胺、ITO、AR膜、 各種光學(xué)膜等 |
|---|---|
| 半導體 | 抗蝕劑、氧化膜、氮化膜、非晶/多晶硅等 |
| 光學(xué)鍍膜 | 防反射膜、硬涂層等 |
| 薄膜太陽(yáng)能電池 | CdTe、CIGS、非晶硅等 |
| 砷化鋁鎵（AlGaAs）、磷化鎵（GaP）等 | |
| 醫療保健 | 鈍化、藥物涂層等 |
基本應用:
基本上所有光滑的、半透明或低吸收系數薄膜都可以測量。這包括幾乎所有的電介質(zhì)與半導體材料，例如：
