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產(chǎn)品型號: PSA
所屬分類(lèi):
產(chǎn)品時(shí)間:2020-11-18
簡(jiǎn)要描述:日本東洋精工toyoseiko氣正電子壽命測量?jì)xPSA這是一種可通過(guò)陽(yáng)離子評估亞納米級尺寸(原子水平)微小缺陷和空洞的方法。陽(yáng)離子壽命測量方法是一種能夠使用陽(yáng)離子評估亞納米級(原子級)微小缺陷和空隙的方法。
日本東洋精工toyoseiko氣正電子壽命測量?jì)xPSA
*與工業(yè)技術(shù)研究院共同開(kāi)發(fā)?
圖1是從正電子進(jìn)入金屬材料到??消失的示意圖。
正電子壽命測量方法是一種精que地測量在產(chǎn)生陽(yáng)離子時(shí)發(fā)射的γ射線(xiàn)與在一對電子消失時(shí)產(chǎn)生的γ射線(xiàn)之間的時(shí)間差(正電子壽命)的技術(shù)。
隨著(zhù)材料中孔隙缺陷的增多和位錯密度的提高,正電子壽命會(huì )增加。
我們已經(jīng)開(kāi)發(fā)了一種反巧合(AC)系統,該系統可區分發(fā)射到樣品另一側的正電子信號。1) (圖1)
通過(guò)采用交流系統,可以在不將輻射源與測量樣品夾在中間的情況下測量正電子壽命。因此,即使只有一個(gè)測試件,也可以進(jìn)行測量。此外,它可以安全使用,而無(wú)需麻煩地處理輻射源。
1) M.Yawakiki等人JJAP 50(2011)086301
日本東洋精工toyoseiko氣正電子壽命測量?jì)xPSA
正電子源 | Na-22(?1 MBq) |
計數率 | 約100 cps |
測量范圍 | 40 ns(與金屬,半導體和聚合物兼容) |
配飾 | ? HDO4024(Teledyne LeCroy制造的DSO), (HDO4024尺寸W400 x L132 x H292 [mm]) ·程序 ·筆記本電腦等。 |